帶A/B掃描功能的超聲波測厚儀CMXDL+
資料下載-多功能超聲波測厚儀CMXDL+

美國DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測厚儀，帶A/B掃描功能，可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置，以獲得更好的性價比。
標(biāo)準(zhǔn)版為灰度顯示屏，可選彩屏版。
- 100MHz FPGA時序電路設(shè)計
可選彩色和灰度顯示屏
A/B掃描
手動調(diào)節(jié)增益和自動增益控制 (AGC)，范圍：110dB
自動時間相關(guān)增益(TDG)
多種測量模式
脈沖-回波(P-E)模式：測量材料厚度
脈沖-回波涂層(PECT)模式：同時測量材料和涂層厚度
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式：測量材料厚度
回波-回波(E-E)模式：穿過涂層測量材料厚度
回波-回波驗證(E-EV)模式： 穿過涂層測量材料厚度
測量涂層(CT)模式：只測量涂層厚度
可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
USB Type-C數(shù)據(jù)接口
內(nèi)置4GB SD存儲卡
多功能超聲波測厚儀CMXDL+

  技術(shù)參數(shù)
  測量
  脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)
脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)，0.0254~2.54mm(涂層)
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)
回波-回波(E-E)模式測量范圍：2.54～152.4mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化)
回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍：2.54～102mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化)
測量涂層(CT)模式測量范圍：0.0127~2.54mm(涂層)
分辨率：0.01mm
聲速范圍：309.88～18542m/s
單位：公制或英制
校準(zhǔn)：一點和兩點校準(zhǔn)方式
  顯示
  顯示屏：1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素?？梢晠^(qū)62x45.7mm，EL背光；可選1/4英寸彩色顯示屏，320x240象素
A-掃描方式：檢波+/-(缺陷視場)，RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)?？v向和橫向視圖(彩色顯示屏)
B-掃描方式：基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數(shù)
大數(shù)字方式：標(biāo)準(zhǔn)厚度顯示，數(shù)字高度17.78mm/14.35mm(彩色顯示屏)
厚度條形掃描：速度10Hz，在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見
穩(wěn)定度指示：表示測量值的穩(wěn)定性
功能狀態(tài)指示：顯示當(dāng)前激活的功能
  超聲波參數(shù)
  測量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脈沖：可調(diào)方波脈沖發(fā)生器
接收：根據(jù)選擇模式在110dB范圍內(nèi)采用手動或AGC增益控制，阻抗50~1500Ω可調(diào)
計時：單次100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的精確TCXO計時
脈沖重復(fù)頻率：250Hz
  探頭
  頻率范圍：1~20MHz
雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式)
LEMO接口，1.2米探頭線
可定制用于特殊應(yīng)用的探頭
  存儲
  容量：內(nèi)置4GB SD卡
數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)：網(wǎng)格(字母數(shù)字)和順序(自動識別)
截屏功能：位圖圖形捕獲，用于快速記錄
數(shù)據(jù)輸出：通過USB Type-C連接的計算機